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Discussion of “Assessing the Goodness of Fit of Logistic Regression Models in Large Samples: A modification of the Hosmer-Lemeshow test,” by Giovanni Nattino, Michael L. Pennell, and Stanley Lemeshow

類別:期刊論文

學年 / 學期:108-2

出版日期:2020-04-06 00:00:00

著者:Li-Ching Chen; Jiun-Yi Wang

著錄名稱、卷期、頁數:Biometrics 76(2), p.569-571

語言:en_US

期刊性質:國外

收錄於:SCI

審稿制度:是

國別:USA

出版型式:電子版,紙本